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表面分析：SIMSの詳細情報
二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析：SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。大阪星光 実物 中学入試出版 入試問題集 過去13年分。看護学 看護師 参考書 生物 科学 まとめて。浜学園2024年度小5最高レベル特訓国語。日本史探偵コナン 全巻1〜12巻+外伝4冊 名探偵コナン歴史まんが。J PREP 英語教材セット。浜学園 小６ 最難関レベル特訓 算数
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